Zeiss Axio Vert.A1 MAT (брошюра)

Микроскоп Axio Vert.А1 позволяет изучать габаритные и тяжелые образцы, используя широкий спектр классических и передовых методов контрастирования, работать по методам светлого и темного поля, дифференциально-интерференционного контраста (DIC), дифференциально-интерференционного контраста с круговой поляризацией (C-DIC), флуоресценции и поляризационного контраста в отраженном свете. А в проходящем свете можно выбирать между светлым полем, поляризацией и фазовым контрастом. Для получения максимального объема информации можно объединить несколько методов контрастирования.

Кодированная 5-позиционное револьверное устройство автоматически распознает смену объектива, а менеджер света поможет сохранить и восстановить значения интенсивности освещения. Axio Vert.А1 позволяет выполнить количественный анализ структуры, оценить свойства и качество материалов, получить новые данные и оптимизировать необходимые процессы подготовки или производства.

Быстрое получение изображений и широкий выбор объективов

Для решения задач в области материаловедения необходимы объективы с различными увеличениями. Кодированное 5-позиционное револьверное устройство Axio Vert.A1 поможет не ошибиться при выборе увеличения и проведении документирования. Кодировка позволяет Axio Vert.A1 автоматически распознавать объектив, что экономит время и предотвращает ошибки при документировании.

Методы контрастирования для решения любых задач

Микроскоп Axio Vert.A1 позволяет применять все известные методы контрастирования. С помощью 4-х позиционной турели для рефлекторных модулей в отраженном свете можно быстро и легко выбрать светлое поле, темное поле, DIC, C-DIC, флуоресценцию и поляризационный контраст, что дает возможность исследовать анизотропные материалы, такие как магний и алюминий. В проходящем свете доступны такие режимы, как светлое поле, поляризация или фазовый контраст.

Zeiss AxioObserver 3/5/7 (брошюра)

Исследовательский микроскоп отраженного света Методы исследования: светлое поле, темное поле, дифференциально -интерференционный контраст (ДИК), C-ДИК (с круговой поляризацией), поляризация, люминесценция;Ручной (A1/D1) и моторизованный (Z1) варианты управления микроскопом;Оптика скорректированная на бесконечность, высокого контраста, разрешения и цветовой коррекции (IC2S-оптика);Окуляры: 103/20; 103/23; 163/16;Объективы: 1,253–1503: Epiplan Neofluar, объективы больших рабочих расстояний для отраженного света; повышенного качества и разрешения EC Epiplan Neofluar, EC Epiplan-Neofluar HD;Система дополнительной смены увеличения "Оптовар" 1,253; 1,63; 2,53;Система освещения: галогеновая лампа (12В, 100 Вт), принцип Келера, светодиод LED; менеджер света (D1, Z1);Револьверное устройство для крепления 6 объективов;Насадки: бинокулярная, бинокулярная насадка с фото / видеовыходом;Фотовидеовыходы: фронтальный, боковые (слева, справа), расположенный снизу основания;Двойной видеоадаптер;устройство ACR идентификации объективов и светоделительных блоков (D1, Z1);Предметные столики: механический; скользящий; сканирующий; право – или левостороннее управление;Система подключения микроскопа RS232, TCPIP, USB, CAN, RS232, Closed Loop, Service interface;Модуль для флуоресцентного анализа: ртутная лампа с саморегулировкой HBO103 (100 Вт), 6позиционное револьверное устройство смены светоделителей;Панель управления(D1, Z1);TFT-сенсорный дисплей для управления микроскопом (Z1);Мини-интерферометр TIC для измерений высот в нанометрическом диапазоне.